物质信息
ID:319711
名称和标识
别名
硅Silicon
IUPAC标准名
silicon
IUPAC传统名
silicon
化合物性质
产品相关信息
线性分子式
Si
其他组分
boron as dopant
直径 × 厚度
2 in. × 0.5 mm
理化性质
外观
wafer (single side polished)
crystalline (cubic (a = 5.4037))
熔点
1410 °C(lit.)
半导体性质
<100>, P-type
沸点
2355 °C(lit.)
密度
2.33 g/mL at 25 °C(lit.)
安全信息
描述信息
包装
1 set in padded box
5 ea in rigid mailer
Physical properties
氧含量：≤ 1~1.8×1018/cm3；碳含量：≤ 5×1016/cm3；晶棒直径：1~8″
零涡旋缺陷。蚀坑密度 (EPD) < 100 (cm-2)。电阻率 10-3 - 40Ω
•cm
1 set in padded box
5 ea in rigid mailer
Physical properties
氧含量：≤ 1~1.8×1018/cm3；碳含量：≤ 5×1016/cm3；晶棒直径：1~8″
零涡旋缺陷。蚀坑密度 (EPD) < 100 (cm-2)。电阻率 10-3 - 40Ω
•cm
分子图谱
暂无数据
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参考文献
暂无数据
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